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SX-SERIE | Sondes de champs proches passives 1 GHz à 20 GHz série SX LANGER EMV, analyse émission CEM CI/PCB
LANGER
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La famille SX se compose de trois sondes de champ H et d'une sonde de champ E.
Le set SX1 (deux sondes de champ H et une sonde de champ E) et le set SX-R 20-1 sont disponibles.
SET SX1 :
L'ensemble SX1 se compose de trois sondes passives en champ proche pour mesurer les champs électroniques et les champs magnétiques avec une fréquence d'horloge élevée de 1 GHz à 10 GHz sur les assemblages électroniques et les circuits intégrés pendant la phase de développement. Les différentes têtes de sonde du set SX1 permettent d'effectuer des mesures au plus près des assemblages électroniques, par ex. sur des broches IC uniques, des chemins conducteurs, des composants et des connecteurs, afin de localiser les sources d'interférences. L’orientation et la distribution du champ d’un ensemble électronique peuvent être détectées grâce à l’utilisation spécifique de la sonde de champ proche. Les sondes en champ proche sont petites et pratiques. Ils possèdent une gaine atténuatrice de courant et sont blindés électriquement. Ils peuvent être connectés à un analyseur de spectre ou à un oscilloscope avec une entrée de 50 Ω.
Fréquences d'horloge élevées, par ex. au-dessus de 3 GHz approchez 10 GHz déjà à la 3ème harmonique. Ces harmoniques sont découplées des sources RF sur la carte, par ex. sections de conducteurs, circuits intégrés et autres composants. D'autres parties structurelles de l'assemblage peuvent être excitées pour osciller et conduire à une émission d'interférences.
Compte tenu de la fréquence de base interne élevée des assemblages actuels, la mesure des multiples de fréquences harmoniques constitue une étape importante vers un assemblage conforme à la CEM.
SET SX-R 20-1
L'ensemble SX-R 20-1 se compose d'une sonde passive en champ proche pour la mesure des champs magnétiques haute fréquence jusqu'à 20 GHz en cours de développement. La tête de sonde du SX-R 20-1 permet des mesures à proximité de l'ensemble électronique, par ex. sur les broches individuelles des circuits intégrés, les conducteurs, les composants et leurs connexions pour localiser les sources d'interférences. L'orientation du champ et la répartition du champ sur l'ensemble électronique peuvent être déterminées en guidant la sonde de champ proche en conséquence. La sonde en champ proche est petite et maniable. Il possède une atténuation du courant de gaine et est blindé électriquement.
La sonde de champ proche est connectée à un analyseur de spectre ou à un oscilloscope avec entrée 50 Ω.
Le set SX1 (deux sondes de champ H et une sonde de champ E) et le set SX-R 20-1 sont disponibles.
SET SX1 :
L'ensemble SX1 se compose de trois sondes passives en champ proche pour mesurer les champs électroniques et les champs magnétiques avec une fréquence d'horloge élevée de 1 GHz à 10 GHz sur les assemblages électroniques et les circuits intégrés pendant la phase de développement. Les différentes têtes de sonde du set SX1 permettent d'effectuer des mesures au plus près des assemblages électroniques, par ex. sur des broches IC uniques, des chemins conducteurs, des composants et des connecteurs, afin de localiser les sources d'interférences. L’orientation et la distribution du champ d’un ensemble électronique peuvent être détectées grâce à l’utilisation spécifique de la sonde de champ proche. Les sondes en champ proche sont petites et pratiques. Ils possèdent une gaine atténuatrice de courant et sont blindés électriquement. Ils peuvent être connectés à un analyseur de spectre ou à un oscilloscope avec une entrée de 50 Ω.
Fréquences d'horloge élevées, par ex. au-dessus de 3 GHz approchez 10 GHz déjà à la 3ème harmonique. Ces harmoniques sont découplées des sources RF sur la carte, par ex. sections de conducteurs, circuits intégrés et autres composants. D'autres parties structurelles de l'assemblage peuvent être excitées pour osciller et conduire à une émission d'interférences.
Compte tenu de la fréquence de base interne élevée des assemblages actuels, la mesure des multiples de fréquences harmoniques constitue une étape importante vers un assemblage conforme à la CEM.
SET SX-R 20-1
L'ensemble SX-R 20-1 se compose d'une sonde passive en champ proche pour la mesure des champs magnétiques haute fréquence jusqu'à 20 GHz en cours de développement. La tête de sonde du SX-R 20-1 permet des mesures à proximité de l'ensemble électronique, par ex. sur les broches individuelles des circuits intégrés, les conducteurs, les composants et leurs connexions pour localiser les sources d'interférences. L'orientation du champ et la répartition du champ sur l'ensemble électronique peuvent être déterminées en guidant la sonde de champ proche en conséquence. La sonde en champ proche est petite et maniable. Il possède une atténuation du courant de gaine et est blindé électriquement.
La sonde de champ proche est connectée à un analyseur de spectre ou à un oscilloscope avec entrée 50 Ω.
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