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HI-3506-10 | C-mètre
HIOKI
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Rubriques associées
Temps de test analogique haute vitesse de 0,6 ms à 1 MHz meilleure résistance au bruit et répétabilité améliorée fréquences de mesure 1 kHz et 1 MHz fonction BIN pour le tri des composants.
| Garantie | 36 mois |
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