E1-SET | Système de test d'immunité des circuits imprimés

L'E1 est un ensemble d'outils CEM conçu pour la suppression des interférences électromagnétiques (EMI) sur les circuits imprimés durant la phase de développement. Il permet au développeur d'identifier rapidement les sources d'interférences en salves et de décharges électrostatiques (DES), facilitant ainsi la mise en place de solutions adaptées pour les résoudre. L'E1 peut également être utilisé pour tester l'efficacité des mesures correctives appliquées. Ce dispositif de test compact s'intègre facilement sur le bureau du développeur. Le manuel d'utilisation de l'E1 explique les principes fondamentaux des mécanismes CEM et offre des descriptions détaillées des stratégies de mesure de base pour la suppression des interférences sur les circuits imprimés. L'E1 comprend un générateur capable de simuler des perturbations en salves et des décharges électrostatiques (DES).