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7750-SERIE | Testeurs d'enroulement à impulsions série Microtest 7750
MICROTEST
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Le MICROTEST série 7750 est un testeur d’enroulements à impulsions de haute performance, équipé d’un écran couleur réactif pour une visualisation optimale. Il délivre des tensions d'impulsion de 1 200 V, 5 200 V ou 10 000 V, et exploite une technologie d’échantillonnage à haute vitesse de 200 MHz / 9 bits.
Conçu pour répondre aux exigences des lignes de production à cadence élevée, il propose une vitesse de test pouvant atteindre 10 tests par seconde. Il intègre plusieurs modes de comparaison avancés, tels que :
- la surface totale,
- la différence de surface,
- le comptage des effets corona,
- le comptage de gigue,
- la différenciation du second ordre,
- la comparaison de formes d’onde.
Pour les tests de petits composants, la version 7750-1S (en option) est fournie avec le dispositif de test CMS à quatre fils FX-IM0001, spécialement conçu pour ce type d’application. Ce module inclut une compensation de tension intégrée, permettant de réduire les erreurs liées au câblage et à l’inductance équivalente, assurant ainsi une mesure précise et fiable, même sur des produits à faible inductance.
Conçu pour répondre aux exigences des lignes de production à cadence élevée, il propose une vitesse de test pouvant atteindre 10 tests par seconde. Il intègre plusieurs modes de comparaison avancés, tels que :
- la surface totale,
- la différence de surface,
- le comptage des effets corona,
- le comptage de gigue,
- la différenciation du second ordre,
- la comparaison de formes d’onde.
Pour les tests de petits composants, la version 7750-1S (en option) est fournie avec le dispositif de test CMS à quatre fils FX-IM0001, spécialement conçu pour ce type d’application. Ce module inclut une compensation de tension intégrée, permettant de réduire les erreurs liées au câblage et à l’inductance équivalente, assurant ainsi une mesure précise et fiable, même sur des produits à faible inductance.
Rubriques associées
• Inductance minimale ≥ 0,1 μH
• Fonction de compensation de tension
• Fréquence d'échantillonnage élevée de 200 MHz/9 bits pour les tests d'impulsions
• Stockage intégré de 128 formes d'onde de test
• Tension d'impulsion programmable
• Analyse de la tension de claquage
• Comparaison de surface totale
• Comparaison de surface différentielle
• Comparaison Laplacienne
• Comparaison Corona
• Comparaison Laplacienne
• Comparaison Plate
• Entrées-sorties numériques
• Interfaces USB host/device, RS-232, Ethernet


