Résultats de recherche pour : '24ns 80 40'

Vouliez-vous dire: 2400 80 40; 2460 80 40

Termes de recherche associés: 24ns 21; 24ns n s; 24ns 60 c kit d; 24ns a digital metrix ohmmetr model dlro100; 24ns a digital micro ohmmetr model dlro10hd

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Carte d'acquisition 40 voies
7702 KEITHLEY
2 076,00 € 1 730,00 €
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Pompe de pression pneumatique jusqu'à 40 bar
7090 TIME
2 030,51 € 1 692,09 €
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Télémètre laser compact avec portée de 40 m
FLUKE-417D FLUKE
183,60 € 153,00 €
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Thermomètres PRT à piquer ATEX, mesure de température de -80°C à 300°C
FLUKE-1552A-EX-SERIE FLUKECAL

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Alimentation numérique 1 voie programmable double gamme, 8 V / 8 A ou 20 V / 4 A, puissance 80 W
E3644A KEYSIGHT
1 692,00 € 1 410,00 €
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Alimentation numérique 1 voie programmable double gamme, 35 V / 2,2 A ou 60 V / 1,3 A, puissance 80 W
E3645A KEYSIGHT
1 692,00 € 1 410,00 €
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Certificat d'étalonnage pour caméra infrarouge TiS 40
PE-FLUKE-TIS40 FI-METRO
289,20 € 241,00 €
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Caméra thermique Optris Xi 400, 382 x 288 px, -20 °C à 900°C, 80 Hz
XI400 OPTRIS

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Capteur souple perle apparente type K / -40 à 260°C
80PK-1 FLUKE
74,40 € 62,00 €
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Constat de vérification pour caméra infrarouge Fluke TiS 40
PV-FLUKE-TIS40 FI-METRO
289,20 € 241,00 €
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Mesureur d'épaisseur de matériaux par ultrasons 0,75 à 80 mm, sonde 7 MHz / ø6 mm, d=0.1 mm
TN80-01US SAUTER
756,00 € 630,00 €
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Sourcemètre 1 voie 40 W, ± 42 V / ± 3 A
2601B KEITHLEY
12 840,00 € 10 700,00 €

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Carte d'acquisition 40 voies

7702 KEITHLEY

Pompe de pression pneumatique jusqu'à 40 bar

7090 TIME

Télémètre laser compact avec portée de 40 m

FLUKE-417D FLUKE

Thermomètres PRT à piquer ATEX, mesure de température de -80°C à 300°C

FLUKE-1552A-EX-SERIE FLUKECAL

Alimentation numérique 1 voie programmable double gamme, 8 V / 8 A ou 20 V / 4 A, puissance 80 W

E3644A KEYSIGHT

Alimentation numérique 1 voie programmable double gamme, 35 V / 2,2 A ou 60 V / 1,3 A, puissance 80 W

E3645A KEYSIGHT

Certificat d'étalonnage pour caméra infrarouge TiS 40

PE-FLUKE-TIS40 FI-METRO

Caméra thermique Optris Xi 400, 382 x 288 px, -20 °C à 900°C, 80 Hz

XI400 OPTRIS

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80PK-1 FLUKE

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PV-FLUKE-TIS40 FI-METRO

Mesureur d'épaisseur de matériaux par ultrasons 0,75 à 80 mm, sonde 7 MHz / ø6 mm, d=0.1 mm

TN80-01US SAUTER

Sourcemètre 1 voie 40 W, ± 42 V / ± 3 A

2601B KEITHLEY

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